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半导体曲线测试仪CS5100,cs3000,cs10000

更新日期: 2017-10-28
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半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)功能

观察I-V曲线以及电压和电流的应用波形



电流和电压脉冲在高电流模式下的应用

屏幕截图
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应用电流和电压的脉冲宽度以及测量点额定可设定为50 - 400 μs之间(CS-3200和CS-3300)。

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MOSFET“电流”和“电压”特性测量示例

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可选择“扫描类别”(SWEEP TYPE)

“扫描类别”包括“下”(DOWN)、“上”(UP)和“定制”(CUSTOM)(所有模式)。
如“定制”模式,可以扫描值之间的范围。

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CS-800半导体参数搜索(可选)

该主控装置软件选项支持电压和电流限制功能,以及自动Vth测量功能。

屏幕截图■限制扫描(LIMIT SWEEP)
如果在“扫描”操作前了电压和电流限值,操作会在超过限值后的下一个测量点停止执行。

屏幕截图■Vth和hFE设置
Vth和hFE可以自动测量。
Vth自动测量示例。 

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