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销售泰克 370A 晶体管测试仪

更新日期： 2017-10-28
浏览人气： 4007

半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)TOP

非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性

zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）
zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式）
所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA）
USB接口（保存屏幕图像和设置条件）
LAN接口（远程控制）
CS-3100、CS-3200、CS-3300


产品系列

 产品名称型号备注
主机半导体特性曲线图示仪CS-31003000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500
半导体特性曲线图示仪CS-32003000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
半导体特性曲线图示仪CS-33003000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
测试台S型测试台CS-301CS-3100标配
M型测试台CS-302CS-3200 / CS-3300标配
测试适配器测试适配器CS-500主控装置附送1个测试适配器
TO型测试适配器CS-501适用于TO型封装（3个引脚）的插口
鳄鱼夹小型鳄鱼夹（红色） x 10CS-001M型测试台选件：CS-302
小型鳄鱼夹（黑色） x 10CS-002M型测试台选件：CS-302
软件选件半导体参数搜索CS-800该软件选件需与CS-3000系列配合安装
半导体参数测量CS-810主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。

用户友好的测量屏幕

图形配置屏幕晶体管V-I特性示例（跟踪模式）
图形配置选择晶体管I-V特性示例（Trace模式）

大电流脉冲模式（波模式）下的Vbe和Ic波形
高电流脉冲模式（波模式）下的Vbe和Ic波形
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