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岩崎半导体曲线图示仪的使用事项

发布日期: 2017-05-31
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    岩崎半导体曲线图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线的仪器,并可测量低频静态参数。岩崎半导体曲线图示仪可以测试多种半导体二极管、三极管、光耦、可控硅集成门电路等半导体器件。是从事半导体管研究制造及无线电领域工作者的一种必不可少的仪器。
    1.特别要了解被测晶体管的集电极zui大允许耗散功率PCM,集电极对其它极的zui大反向击穿电压如V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)CER,集电极zui大允许电流ICM等主要指标; 
    2.在测试前首先要将极性与被测管所需的极性相同即可选择PNP或NPN的开关置于规定位置;    
    3.将集电极电压输出按至其输出电压不应超过被测管允许的集电极电压,同时将峰值电压旋至零,输出电压按至合适的档级并将功耗限制电阻置于一定的阻值,同时将X、Y偏转开关置于合适的档级,此档级以不超过上述几个主要直流参数为原则; 
    4.对被测管进行必要的结算,以选择合格的X阶梯电流或电压,原则以不超过被测管的集电极zui大允许耗损功率; 
    5.在进行ICM的测试时一般采用单次阶梯为宜,以免被测管的电流击穿; 
    6.在进行IC或ICM测试中应根据集电极电压的实际情况,不应超过本仪器规定的zui大电流。 
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