半导体曲线图示仪是一种用示波管显示半导体器件各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。与其它同类型图示仪相比，主要区别在于采用了微机控制技术，引入了字符显示，光标测量功能，使半导体管的各种静态参数，包括β（hfe）、Gfs(gm) 均可光标测量、数字读出, 给用户带来更多方便。为保证仪器的合理使用，既不损坏被测晶体管，也不损坏仪器内部线路，在使用仪器前应注意下列事项： 1.对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计，特别要了解被测管的集电极大允许耗散功率PCM、大允许电流ICM和击穿电压BVEBO、BVCBO 。
2.选择好扫描和阶梯信号的极性，以适应不同管型和测试项目的需要。
3.根据所测参数或被测管允许的集电极电压，选择合适的扫描电压范围。一般情况下，应先将峰值电压调至零，更改扫描电压范围时，也应先将峰值电压调至零。选择一定的功耗电阻，测试反向特性时，功耗电阻要选大一些，同时将X、Y偏转开关置于合适挡位。测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。
4.对被测管进行必要的估算，以选择合适的阶梯电流或阶梯电压，一般宜先小一点，再根据需要逐步加大。测试时不应超过被测管的集电极大允许功耗。
5.在进行ICM的测试时，一般采用单簇为宜，以免损坏被测管。
6.在进行IC或ICM的测试中，应根据集电极电压的实际情况选择，不应超过本仪器规定的大电流。
7.进行高压测试时，应特别注意安全，电压应从零逐步调节到需要值。观察完毕，应及时将峰值电压调到零。
吴工
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