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如何保证半导体曲线图示仪的合理使用

发布日期: 2020-04-23
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   半导体曲线图示仪是一种用示波管显示半导体器件各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器。与其它同类型图示仪相比,主要区别在于采用了微机控制技术,引入了字符显示,光标测量功能,使半导体管的各种静态参数,包括β(hfe)、Gfs(gm) 均可光标测量、数字读出, 给用户带来更多方便。为保证仪器的合理使用,既不损坏被测晶体管,也不损坏仪器内部线路,在使用仪器前应注意下列事项: 
  1.对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计,特别要了解被测管的集电极最大允许耗散功率PCM、最大允许电流ICM和击穿电压BVEBO、BVCBO 。 
  2.选择好扫描和阶梯信号的极性,以适应不同管型和测试项目的需要。 
  3.根据所测参数或被测管允许的集电极电压,选择合适的扫描电压范围。一般情况下,应先将峰值电压调至零,更改扫描电压范围时,也应先将峰值电压调至零。选择一定的功耗电阻,测试反向特性时,功耗电阻要选大一些,同时将X、Y偏转开关置于合适挡位。测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。 
  4.对被测管进行必要的估算,以选择合适的阶梯电流或阶梯电压,一般宜先小一点,再根据需要逐步加大。测试时不应超过被测管的集电极最大允许功耗。
  5.在进行ICM的测试时,一般采用单簇为宜,以免损坏被测管。 
  6.在进行IC或ICM的测试中,应根据集电极电压的实际情况选择,不应超过本仪器规定的最大电流。  
  7.进行高压测试时,应特别注意安全,电压应从零逐步调节到需要值。观察完毕,应及时将峰值电压调到零。
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